L’évaluation de fiabilité prévisionnelle électronique concerne tous les composants (passifs, discrets actifs, FPGA, ASIC, etc…) dont les lois de mortalité sont reprises dans les modèles mathématiques que l’on retrouvent dans des guides tels que MIL-HDBK217F, FIDES, UTE C80-810, RDF 93 ; BELLCORE, SIEMENS, etc….
Le taux de panne d’un composant évolue dans le temps. Les évaluations de fiabilité concernent la période de vie utile du composant.
La période de jeunesse est en générale très courte et est normalement éliminée par des essais de déverminage (ou par des essais HASS).
Le MTBF peut s’exprimer en heure de vol, heure calendaire, heure de fonctionnement, par Km, ou par cycle (on parlera alors de MCBF : Mean Cycle Between Failure).
La modélisation classique du taux de défaillance d’un composant est du type :
λp = λb x πt x πs x πq x πe x πop
Avec :
λp : Taux de défaillance du composant
λb : Taux de défaillance de base intrinsèque au composant,
πt : Facteur lié à la température d’utilisation,
πs : Facteur de stress du composant (en tension, en puissance, en courant),
πq : Facteur de qualité du composant,
πe : Facteur lié à l’environnement dans lequel se trouve l’équipement (Avion par exemple),
πop : Facteur lié au fonctionnement (Etat opérationnel) ou stockage (Etat non opérationnel) de l’équipement.
Fort de son expérience en fiabilité, la société FIATEQ a développé son propre outil de calcul Reliatools® lui permettant de fournir à ses clients des prestations de qualité dans les meilleurs délais.
La société FIATEQ réalise pour vous des études de fiabilité visant à déterminer le taux de défaillance d’équipements électroniques en utilisant les référentiels suivants :
Et autres sur demande (BELLCORE, SIEMENS, etc…).
Certains de ces modèles paramétrés, trop anciens, nécessitent un recalage des taux de défaillance. La société FIATEQ peut opérer ces recalages avec vos propres retours d’expérience.